半導體芯片環境可靠性檢測的核心儀器，圍繞溫濕度、振動、高低溫、鹽霧、老化等，覆蓋芯片設計、封裝、成品全階段的可靠性驗證，以下是相應的可靠性試驗儀器推薦，匹配半導體芯片行業檢測需求：
可程式恒溫恒濕試驗箱
能夠同時滿足高濕與低濕的測試需求，執行85C/85%RH等條件下的長期老化，評估封裝密封性與抗腐蝕能力。
溫度范圍:-70C~+150C
濕度范圍:20%R.H~98%R.H
HAST高壓加速老化試驗機
主要用于對電工、電子產品，元器件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高溫高濕及壓力的氣候條件下，對產品的物理以及其它相關性能進行測試。
蒸汽溫度范圍:105C~147C
蒸汽濕度:75%R.H.~100%R.H.
冷熱沖擊試驗箱
在極短時間內將樣品從高溫切換至低溫，加速熱應力失效。產品分兩箱式、三箱式;兩箱式為提籃式，產品測試時為動態;三箱式分蓄冷室、蓄熱室和試驗室，產品測試時為靜態。
溫度沖擊范圍:-65C~+150C
儲熱時間:RT~170C15min
儲冷時間:RT~-75C60min
快速溫變試驗箱
用于芯片在溫度快速變化或漸變條件下的環境適應性試驗和應力篩選試驗，驗證芯片的耐久性。
溫度范圍:-70C~+150CF
升溫速率:-55C~+150C
線性:1-20C/min,可調(空載)
降溫速率:+150C~-55C
線性:1-20C/min,可調(空載)
三綜合振動試驗臺
海達儀器三綜合振動試驗臺將溫度、濕度、振動、正弦振動或隨機振動以及電應力按規定的周期綜合在同一氣候試驗箱中施加到樣品上進行溫度、濕度振動的綜合試驗。檢驗試樣的各性能項指標綜合環境可靠性試驗、可靠性增長試驗、可靠性鑒定試驗(RQC)、產品可靠性驗收(PRAT)、例行試驗、應力篩選試驗(ESS)等。
溫度范圍:-70C~+150C
濕度范圍:20%RH~98%RH
最大正弦/隨機激振力:3kN、6kN、10kN、20kN、30kN、50kN接最大沖擊激振力:6kN、12kN、20kN、40kN、60kN、100kN頻率范圍:5HZ~3000HZ，5000Hz
最大加速度:100G(980m/s2)
額定荷載:300kg
最大速度:2m/s
機械沖擊試驗儀
海達儀器機械沖擊試驗儀可模擬芯片在生命周期中可能遭遇的瞬時沖擊載荷，驗證結構完整性、封裝可靠性和電性能穩定性，篩選出設計或工藝缺陷，確保實際受沖擊場景下能正常工作。
跌落高度:0~1500mm
工作合面:350x350mm
脈沖持續時間:0.5~30ms
峰值加速度:20~1500g
最大負載:25kg
復合式鹽霧腐蝕試驗箱
海達儀器復合式鹽霧試驗箱支持NSS鹽水噴霧試驗、AASS乙酸鹽霧試驗、CASS銅加速乙酸鹽霧試驗、濕熱試驗、干燥試驗、標準大氣候環境試驗試驗條件或進行其他組合的復合試驗條件。評估樣品在高溫、濕熱、干燥、鹽霧等交變復合條件下環境中的耐腐蝕性(適用于戶外/海洋應用)。
鹽霧沉降:1~2ml/80cm.hr2
溫度范圍:20C~65C
濕度范圍:25%RH~98%RH
篇噴霧方式:連續、周期、程序任選
高低溫低氣壓(濕熱)試驗箱
海達儀器高低溫低氣壓(濕熱)試驗箱模擬高海拔低壓環境下的測試環境，保證產品或材料在不同高度的可靠性。
壓力范圍:0.5kPa~101.3 kPa
溫度范圍:-70C~+150C
環境濕度:95%RH
濕度范圍:20%RH~98%RH
UV耐候試驗箱
海達儀器UV耐候試驗箱評估封裝材料(如環氧樹脂、熒光膠)在紫外線下的黃變、開裂等老化情況。
溫度范圍:RT+20C~70C
控制系統:光照，冷凝和淋雨系統循環可調
UV燈光:4000小時運行壽命
紫外線波長:290nm~400nm
